在醫(yī)學(xué)界限又稱醫(yī)用X射線防輻射鉛玻璃板,鉛玻璃重點(diǎn)分為國產(chǎn)鉛玻璃和入口鉛玻璃,重點(diǎn)用作診斷X射線機(jī)房、CT、ECT、PET、CT-PET等機(jī)房和X射線攝影防御室、防御門防御屏上的觀察窗,和核醫(yī)學(xué)用操縱防御屏等. 所需厚度可根據(jù)算計(jì)肯定.我公司供給的鉛板、鉛磚純度為99.994%以上,鉛板規(guī)格為--0.5mm-100mm,鉛磚慣例尺寸為160*80*40mm,鉛板表面光亮,厚度平均;鉛板里面無氧化混雜物,無氣泡和裂痕,防御功能佳,有檢測匯報(bào)和材質(zhì)單,可用于射線防御、產(chǎn)業(yè)探傷、防腐耐酸、隔音、配重等用處. 復(fù)合防御板系列:選用先進(jìn)的自動(dòng)化流水線制造,產(chǎn)物密度打,表面平滑,強(qiáng)度高,可用于病院,ct室,x光室,手術(shù)室的吊頂,隔墻,貼墻面等放射性勞動(dòng)場地射線防御.平利鉛板,指用金屬平利鉛軋制而成的板材,方今中華常見的厚度為1-20mm,慣用規(guī)格為1000*2000MM,中華不妨的機(jī)械可制造最寬1300MM,最長8000MM,多選用1#電解平利鉛制造,市情上也有選用收回平利鉛制造而成的. 其品性略差些,價(jià)值相差些許.平利鉛板,擁有很強(qiáng)的防腐蝕,耐酸耐堿,耐酸環(huán)境施工、醫(yī)用防輻射,X光,CT室射線防御、加劇、隔音等很多方面,并且是一種對(duì)照便宜的防輻射原料.通常中華制造的平利鉛板純度為99.99%以上為國標(biāo)產(chǎn)物, 密度為11.34g/cm3.管理無小事，“天下難事，必作于易；天下大事，必作于細(xì)?！保ɡ献铀裕┛芍^“成也細(xì)節(jié)，敗也細(xì)節(jié)”。

醫(yī)院墻體硫酸鋇砂醫(yī)院墻體硫酸鋇砂使用一段時(shí)間后如果未能做好保養(yǎng)護(hù)理工作，就很有可能出現(xiàn)變形，變形的形式也有好幾種，下面，就為大家羅列較為常見的幾種，便于大家在使用前辨別。 　 1、醫(yī)院墻體硫酸鋇砂波浪形的變形是醫(yī)院墻體硫酸鋇砂的縱向軸線成螺旋線形狀。這種變形不一定導(dǎo)致任何強(qiáng)度上的損失，但如變形嚴(yán)重即會(huì)產(chǎn)生跳動(dòng)造成不規(guī)則的傳動(dòng)。時(shí)間長了會(huì)引起磨損及斷絲，出現(xiàn)波浪形時(shí)，在醫(yī)院墻體硫酸鋇砂長度不超過25d的范圍內(nèi)，若d1≥4d/3，則醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)報(bào)廢。 　 2、當(dāng)外層繩股發(fā)生脫節(jié)或者變得比內(nèi)部繩股長的時(shí)候就會(huì)發(fā)生這種變形，籠狀畸變的醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)立即報(bào)廢。 　 3、繩股被擠出說明醫(yī)院墻體硫酸鋇砂不平衡，繩股擠出的醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)立即報(bào)廢。此種變形是一部分鋼絲或鋼絲束在醫(yī)院墻體硫酸鋇砂背著滑輪槽的一側(cè)拱起形成環(huán)狀，這種變形常因沖擊載荷而引起，若此種變形嚴(yán)重時(shí)，則醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)報(bào)廢。 　 4、醫(yī)院墻體硫酸鋇砂直徑有可能發(fā)生局部增大，并能波及相當(dāng)長的一段醫(yī)院墻體硫酸鋇砂。繩徑增大通常與繩芯畸變有關(guān)，其必然結(jié)果是外層繩股產(chǎn)生不平衡，而造成定位不正確。 　 5、繩徑局部嚴(yán)重增大的醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)報(bào)廢。扭結(jié)是由于醫(yī)院墻體硫酸鋇砂成環(huán)狀在不可能繞其軸線轉(zhuǎn)動(dòng)的情況下被拉緊而造成的一種變形，其結(jié)果是出現(xiàn)捻距不均而引起格外的磨損，嚴(yán)重時(shí)醫(yī)院墻體硫酸鋇砂將產(chǎn)生扭曲，以致只留下極小一部分醫(yī)院墻體硫酸鋇砂強(qiáng)度。 　 6、嚴(yán)重扭結(jié)的醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)立即報(bào)廢。醫(yī)院墻體硫酸鋇砂直徑的局部減小常常與繩芯的斷裂有關(guān)，應(yīng)特別仔細(xì)檢驗(yàn)靠繩端部位有無此種變形。 　 7、繩徑局部嚴(yán)重減小的醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)報(bào)廢。醫(yī)院墻體硫酸鋇砂部分被壓扁是由于機(jī)械事故造成的，嚴(yán)重時(shí)，則醫(yī)院墻體硫酸鋇砂應(yīng)報(bào)廢。射線探傷是利用射線可穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)缺陷的一種探傷方法。按探傷所使用的射線不同，可分為X射線探傷、γ射線探傷。